Quelles sont les meilleures pratiques pour mesurer les propriétés électriques des matériaux à l’aide de l’AFM ?
Microscopie à force atomique (AFM) est une technique puissante pour caractériser les propriétés nanométriques des matériaux, y compris leurs propriétés électriques. Cependant, pour obtenir des mesures précises et fiables, vous devez suivre certaines bonnes pratiques qui tiennent compte des facteurs qui affectent les performances de l’AFM et la réponse du matériau. Dans cet article, vous découvrirez certaines de ces bonnes pratiques, telles que le choix de la bonne sonde, la définition des paramètres appropriés, l’étalonnage du système et l’analyse des données.